Z4
C1
1) Niepewność jaką powinien charakteryzować się przyrząd pomiarowy.
Z uwagi na tolerancje danego wymiaru winien być spełniony warunek ∆ (dokładność pomiaru danego przyrządu) ≤ 0,1 Tw (tolerancja mierzonego wymiaru)
2) Wymienić elementy komputerowych systemów pomiarowych.
Przyrządy pomiarowe z wbudowanymi elektrycznymi przetwornikami wielkości (długości lub kata) oraz przetwornikami A/D musza mieć one cyfrowe wyjście danych, program transmisji danych. Komputer systemowy gdzie jest przeprowadzana obróbka i analiza. Oprogramowanie do gromadzenia, analizy, graficznego przedstawienia wyników pomiarowych np. Excel.
C2
1) Definicja odchyłki okrągłości:
Odchyłka okrągłości – miara niezgodności rzeczywistego zarysu przedmiotu z kształtem geometrycznym okręgu. Jest to największa odległość zarysu rzeczywistego od okręgu przylegającego do tego zarysu, mierzona wzdłuż promienia tego okręgu. Najczęściej spotykanymi odchyłkami okrągłości są owalność i graniastość. W celu wykrycia owalności stosuje się styk 2 punktowy a do garaniastości styk 3 punktowy.
2) Komputerowy system pomiaru nieparzystych odchyłek okrągłości.
Strona 48.
C8
1) Omówić zasadę sprawdzania płaskości powierzchni pomiarowych mikromierza. metoda ta polega na przyłożeniu do badanej powierzchni płaskiej płytki interferencyjnej i zaobserwowaniu obrazu prążków interferencyjnych. Jeśli obraz stanowią nie zamknięte krążki interferencyjne to odchylenie P od płaskości należy wyznaczyć ze wzoru: P=n*k* λ / 2 jeśli obraz stanowią zamknięte prążki interferencyjne to odchylenie płaskości liczymy ze wzoru: P= m*λ/2. k – odległość pomiędzy sąsiednimi prążkami, n – odchylenie od prostoliniowości w jednostkach równych k prążków, m – liczba kołowych prążków, λ – dł. fali światła.
2)
C9
1) Podać definicję S mi , Sm.
-odstęp chropowatości (S mi) – jest to długość odcinka linii średniej m zawierająca wzniesienie i sąsiadujące z nim wgłębienia profilu chropowatości
-średni odstęp chropowatości (Sm) – jest to średnia wartość z odstępów chropowatości występujących w przedziale odcinka elementarnego (l)
2) Na czy polegają stykowe metody pomiaru.
Metoda stykowa polega na wykorzystaniu igły o znanej geometrii przesuwającej się po badanej powierzchni ze stałą prędkością. Przemieszczenia pionowe igły są przekształcane na sygnał elektryczny. Wzmocniony sygnał może być przetwarzany na wartości liczbowe żądanych parametrów chropowatości lub rejestrowany w postaci profilogramu o znanym powiększeniu pionowym i poziomym.
C10
1) Omówić parametry charakteryzujące rozkład normalny.
Wartość oczekiwań: wartość opisująca spodziewany wynik doświadczenia losowego.
Mediana: wartość cechy w szeregu uporządkowany poniżej i powyżej w którym znajduje się jednakowa liczba obserwacji.
Wariancja: W statystyce klasyczna miara zmienności jest równa kwadratowi odchylenia średniego. Wyznacza się na podstawie próbki liczebności n i przyjmuje jako oszacowanie wariancji dla danej populacji.
Wartość średnia: używa się jej do szacowania nie wiadomej wartości poprawnej jako wartości centralnej względem której wyznacza się średnie odchylenie właściwości lub jako jednego z parametrów określającego stabilność procesu. Wartość średnią wyznacza się dla próbki o liczebności n i przyjmuje się jak oszacowanie wartości średniej dla danej populacji.
2) Omówić pojęcie liczebności próbki w badaniach statystycznych.
Nie można jej wyznaczyć ale można obliczyć oszacowanie tej liczebności na podstawie granic kontrolnych poziomów częstości. Prostym sposobem obliczania szacowania liczebności próbki jest skorzystanie z ogólnie znanej w statystyce zmiennej losowej standaryzowanej.